Uri ng Instrumento ng Paglihis

Pangungusap

Ang mga instrumentong kung saan ang sukatin na bilang ay naglilikha ng pisikal na epekto na nagsisira o nagbabago ng puwesto ng kilos na sistema ay tinatawag na mga deflection-type instruments. Sa ibang salita, ginagamit ng mga instrumentong ito ang pag-sira ng isang kilos na bahagi bilang pundasyon para sa pagsukat ng elektrikal na bilang, kaya sila ay angkop para sa pagsukat sa dinamiko na kondisyon.

Ang mga deflection-type instruments ay may kasamaang epekto na laban sa pagbabago ng puwesto ng kilos na sistema. Ang mga laban na epekto na ito ay disenyo upang ang kanilang laki ay tumataas habang tumataas ang pag-sira o pagbabago ng puwesto dahil sa sukatin na bilang. Nakakamit ang balanse kapag ang mga laban na epekto ay katumbas ng puwersa na nagpapagalaw ng pag-sira o paggalaw ng kilos na bahagi.

Halimbawa

Sa isang permanent magnet moving coil (PMMC) ammeter, ang pag-sira ng kilos na elemento ay direktang proporsyonal sa kuryente (ang sukatin na bilang) na dumaan dito. Ang torque na nagpapagalaw \(T_d\) na gumagana sa coil ay direktang proporsyonal sa kuryente, inihayag ng ekwasyon:

Td=GI  Equ(1)

kung saan G ay isang konstante na hindi nakadepende sa density ng flux, ang lugar ng kilos na coil, at ang bilang ng mga gulong.

Ang laban na torque Tc ay ginagawa ng isang spring, na proporsyonal sa anggulo ng pag-sira θ:

Tc=Kθ  Equ(2)

kung saan K ay ang konstante ng spring, na nakadepende sa materyal at dimensyon ng spring.

Sa ilalim ng balansadong kondisyon:

Td=Tc  Equ(3)

Pagpapalit ng Td at Tc sa Equation (3):

GI = KθI = (K/G)θ

Ang sukatin na kuryente kaya ay nakadepende sa anggulo ng pag-sira θ at sa meter constants G at K. Ang halaga ng kuryente ay direkta na nababasa mula sa anggulo ng pag-sira θ, na kalibrado gamit ang G at K.

Mga Diwatak-watak ng Deflection-Type Instruments

• Mababang Katumpakan: Ang mga instrumentong ito ay may relatibong mababang katumpakan ng pagsukat.

• Babaang Sensibilidad: Ang sensibilidad ay mas mababa kumpara sa null-type instruments.

• Dependensiya sa Kalibrasyon: Ang katumpakan ng pagsukat ay nakadepende sa kalibrasyon ng instrumento.